目前有无和晶圆厂送样合作?理工光科回应
财闻
2026-07-15 16:07:11
7月15日,公司回答表示,光纤光栅位“微米级位移监测”与EUV光刻设备核心部件的测量要求并非同一技术指标,公司未与晶圆厂开展送样合作。
有投资者向理工光科(300557.SZ)提问,公司高精度光纤光栅专利可实现微米级监测,此前中标核聚变HL3项目,相关传感技术是否可延伸至半导体EUV光刻设备的温度、应力在线监测?目前有无和晶圆厂送样合作?
7月15日,公司回答表示,光纤光栅位“微米级位移监测”与EUV光刻设备核心部件的测量要求并非同一技术指标,公司未与晶圆厂开展送样合作。

